輪郭および表面計測モジュール式治具システム

表面および輪郭計測は、微細な形状偏差と粗い形状偏差の両方に対処することで製品の品質を確保する上で重要な役割を果たし、最終的には製品の機能に影響を与えます。 検査プロセスの信頼性は、試験片の精度と確実なクランプ、プロセス固有の治具のセットアップの効率、再現可能な部品の位置決めの容易さに大きく依存します。 これらの課題に対処するために、ドイツの治具専門会社 dk FIXIERSYSTEME GmbH は、効果的なソリューションを提供する SWA39 モジュラー クランプ システムを開発しました。

インテリジェント dk コンセプトは、多様な標準モジュールを提供し、カスタムメイドの部品を必要とせずに、単純または複雑なクランプ治具の構築を可能にします。 治具構造の柔軟性により、新しい構成での分解と再組み立てが可能です。 高い耐摩耗性を備えたこのシステムは長期間の使用を保証し、新製品の加工時間を短縮し、治具のコスト削減につながります。

システムのベースプレートは、試験片の測定領域を測定装置の軸に合わせるための基礎として機能します。 機械の T スロット内で X 軸と Y 軸を簡単に調整できます。 プレートの下に取り付けられたガイドピンは、グリッドの Y 軸に沿って調整でき、テーブルのスロットと係合して、測定軸に沿った X 軸の動きを正確に保持します。 さらに、ガイドピンがなくてもベースプレートを無限に回転させることができ、確実にクランプできます。 T スロットのないテーブルでは、ベース プレートはかなりの重量があるため、どの位置でも安定したままになります。

部品を位置合わせし、テスト表面を必要な水平面に設定するための傾斜機能が必要な測定アプリケーションの場合、モジュラー システムは、同じ傾斜要素を使用して調整できるさまざまなクランプ要素を提供します。 この適応性により、さまざまな測定シナリオに最適なプロセスが保証されます。

X 位置と Y 位置、および回転の微調整は、位置決めステージのマイクロメーター ヘッドを介して行うことができ、各測定の正確でロックされた設定が可能です。

SWA39 モジュラー治具システムの広範囲にわたる機能は、その論理的かつ詳細なソリューションとともに、他の dk 治具システムとシームレスに連携し、ユーザーに優れたメリットを提供します。 さらに、すべての基本要素、アセンブリ要素、およびクランプ要素を相互または交互に使用できるため、その用途は輪郭および表面計測を超えて、触覚、光学、およびコンピュータ断層撮影測定機にまで拡張されます。

詳細については、www.dk-fixiersysteme.de をご覧ください。

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